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詳細(xì)摘要： DNC-7P動(dòng)態(tài)干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：DNC-7P結(jié)構(gòu)緊湊，重量輕35us數(shù)據(jù)采集時(shí)間2448*2048 Pixel,12bit優(yōu)秀的數(shù)據(jù)分析和可視化軟件有振動(dòng)和氣流...

詳細(xì)摘要： D50中紅外干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：D50紅外光學(xué)元件的表面面型測(cè)量

詳細(xì)摘要： 130mm紅外激光干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF130-IR-LS635nm可見(jiàn)光共軸對(duì)準(zhǔn)，操作方便工程化程度高，性能優(yōu)良，使用可靠

詳細(xì)摘要： 中心偏測(cè)量?jī)x產(chǎn)品型號(hào)：?jiǎn)瓮哥R測(cè)量 膠合鏡測(cè)量鏡組裝配曲率半徑檢測(cè)

詳細(xì)摘要： 雙光管測(cè)角儀產(chǎn)品型號(hào)：楔角測(cè)量 直角棱鏡角差 平面度測(cè)量 垂直度測(cè)量 折射率測(cè)量

詳細(xì)摘要： 數(shù)字自準(zhǔn)直儀產(chǎn)品型號(hào)：楔角測(cè)量 直角棱鏡角差 平面度測(cè)量 垂直度測(cè)量導(dǎo)軌直線度測(cè)量

詳細(xì)摘要： 波長(zhǎng)調(diào)諧式干涉條紋分析系統(tǒng)產(chǎn)品型號(hào)：機(jī)械相移分析系統(tǒng)主要通過(guò)壓電陶瓷在較高電壓作用下產(chǎn)生一定的伸縮變形，從而帶動(dòng)反射鏡產(chǎn)生微小的平移，改變光程形成干涉，利用專(zhuān)門(mén)...

詳細(xì)摘要： 機(jī)械相移式干涉條紋分析系統(tǒng)產(chǎn)品型號(hào)：太科波長(zhǎng)調(diào)諧式干涉條紋分析系統(tǒng)是一套用于檢測(cè)光學(xué)元件面形的專(zhuān)業(yè)工具。該系統(tǒng)通過(guò)改變激光的波長(zhǎng)產(chǎn)生相移，形成干涉條紋，再利用專(zhuān)...

詳細(xì)摘要： INF100-LP/LS球面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF100-LP/LS高精度、多品種透鏡的光學(xué)表面面型測(cè)量高精度平面光學(xué)元件的表面面型測(cè)量給出面型綜合分析，數(shù)據(jù)處...

詳細(xì)摘要： INF150-LP/LS激光球面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF150-LP/LSINF150-LP/LS激光球面干涉儀主要用于平面、球面及非球面等光學(xué)元件的面型測(cè)試！

詳細(xì)摘要： INF60H-LP/LS臥式激光球面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF60H-LP/LSINF60H-LP/LS臥式激光球面干涉儀主要用于球面光學(xué)元件及系統(tǒng)的測(cè)試！

詳細(xì)摘要： INF60-LS球面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF60-LS各類(lèi)中小透鏡，球面反射鏡的光學(xué)表面面型測(cè)量

詳細(xì)摘要： INF25-LP蓋板干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF25-LP主要用于手機(jī)蓋板、晶體、平行平板等雙面拋光元件的透射及反射面型測(cè)試！

詳細(xì)摘要： INF60-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF60-LP平面光學(xué)元件表面面型測(cè)量

詳細(xì)摘要： INF150-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF150-LP平面光學(xué)元件的表面面型測(cè)量平面光學(xué)元件平行度測(cè)量

詳細(xì)摘要： INF450-LP-WM激光平面數(shù)字干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF450-LP-WM成像質(zhì)量良好，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔臥式結(jié)構(gòu)，雙端口測(cè)量操作方便，使用簡(jiǎn)單波長(zhǎng)調(diào)諧相移解相分析系統(tǒng)

詳細(xì)摘要： INF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF150V-LPINF150V-LP激光數(shù)字平面干涉儀主要用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)平面元件的數(shù)字化測(cè)量！

詳細(xì)摘要： INF300V-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF300V-LP測(cè)量光學(xué)平面面型精度測(cè)量光學(xué)元件的材料均勻性對(duì)干涉條紋進(jìn)行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗(yàn)報(bào)告

詳細(xì)摘要： INF200V-LP激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF200V-LP中大口徑光學(xué)元件平面面型精度測(cè)量對(duì)干涉條紋進(jìn)行數(shù)據(jù)分析處理，給出檢驗(yàn)報(bào)告

詳細(xì)摘要： INF600-LP-WM激光平面干涉儀產(chǎn)品型號(hào)：INF600-LP-WM雙端口檢測(cè)大口徑平面元件面型檢測(cè)光學(xué)材料均勻性測(cè)量元件面型分析，光學(xué)數(shù)據(jù)處理