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詳細介紹
- 特點
- 用途
- 技術參數
1.快速檢測，測試時間短；
2.可接入自動化生產線；
3.適應多種測試。
手機蓋板、平板玻璃等元件的透射面型檢測；
小口徑平面光學元件的面型測試。
測量方式：斐索干涉原理
通光口徑：Φ12mm/Φ25mm
測試波長：635nm(半導體激光器)
對準方式：兩點對準
對準視場：±2°
平面標準鏡：材料：石英；面型精度PV：λ/20
相移解相方式：機械相移解相
| 成都太科光電技術有限責任公司 |
| 參考價 | 面議 |
更新時間：2022-08-26 16:30:41瀏覽次數：939
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1.快速檢測，測試時間短；
2.可接入自動化生產線；
3.適應多種測試。
手機蓋板、平板玻璃等元件的透射面型檢測；
小口徑平面光學元件的面型測試。
測量方式：斐索干涉原理
通光口徑：Φ12mm/Φ25mm
測試波長：635nm(半導體激光器)
對準方式：兩點對準
對準視場：±2°
平面標準鏡：材料：石英；面型精度PV：λ/20
相移解相方式：機械相移解相
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