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機械相移式干涉條紋分析系統產品型號：太科波長調諧式干涉條紋分析系統是一套用于檢測光學元件面形的專業工具。該系統通過改變激光的波長產生相移，形成干涉條紋，再利用專門的算法，分析和計算各個相位的干涉條紋圖像，從而還原出被檢件的波面信息。除了可以通過形象直觀的等高圖、二維剖面圖和三維立體圖等方式表達被檢件的波面數據，還可以計算和顯示被檢件的Zernike多項式、MTF、PSD、PSF和波前梯度、數字濾波等多種光學參數。
| 成都太科光電技術有限責任公司 |
| 參考價 | 面議 |
更新時間：2022-08-27 16:23:20瀏覽次數：1026
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