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詳細介紹
X-RAY XDV-SDD是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層側厚及材料分析儀。它特別適合用于測量和分析超薄鍍層及進行痕量分析。其配備了高精度、可編程的X/Y軸工作臺，是全自動測量樣品的理想設備。
1.分析超薄鍍層，如：厚度≤0.1um的Au和Pa鍍層；
2.印刷線路板上RoHs及WEEE要求的痕量分析；
3.黃金成分分析
4.測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層；
5.分析復雜的多鍍層系統；
6.全自動測量，如：用于質量控制領域。
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