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儀器儀表微觀察技術在棉紡織業應用
閱讀：688 發布時間：2008-8-1
論何種纖維，其結構上是具有固定的特征，而此特征亦是纖維的本質屬性，不同的纖維有著其不同之物理性及化學性，此等性質亦是決定著該種纖維的使用特征，這些特性原于纖維本身的結構及內含，我們可以由纖維之外形至內層,甚至由深入至纖維分子組成之形態,觀察纖維的結構,了解纖維基本單元相互之作用及排列形式.結構內含直接影響著纖維各項性質的內在原因.探索纖維的基本特性,在現時開發化學纖維之新型纖維上,已被廣泛利用,而天然纖維則較少應用.纖維微觀察之發展:纖維微型觀察結構研究,由19世紀至近代三四十年內,不論是理論上,分析方法上,儀器發展上都大有突破,尤其各種新型纖維之誕生,從宏觀結構進入微觀結構領域,已達新紀元..隨著各種光學顯微鏡及其技術之創新,令微觀察技術應用在纖維鑒別法上更為成熟.
（一）微觀光學儀及各項方法之發展現今各類光學儀器,林林總總,配合不同需要及不同工藝,例如:
（1）掃瞄電子顯微鏡SEM（SCANNING ELECTRON MICROSCOPE）—由光學系統及掃瞄系統,信號檢測系統和圖像顯示系統,記錄系統等組成.電子束從電子槍射出后，經磁透鏡聚焦，并受到兩組掃描線圈的偏轉作用，然后投射到試樣上作光柵狀掃描的細電子束，在顯像管的熒光屏得到圖像信息。其圖像立體感強，試樣厚度無限制。
（2）透射電子顯微鏡TEM（TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE）—由電子槍,聚光鏡等成像系統及圖像和記錄系統組成.
（3）掃瞄隧道顯微鏡STM（SCANNING TUNNELLING MICROSCOPE）
（4）原子力顯微鏡AFM（ATOMIC FORCE MICROSCOPE）
（5）偏振光顯微鏡（POLARIZED MICROSCOPE）—能使光線產生偏振,并在偏振之下觀察微細結構的顯微鏡.可測量纖維的雙折射和取向度。
（二）纖維結構鑒別法：
（1）X射線和電子衍射法（X-ray&Electron diffraction）—可利用X射線照射不同纖維時所得的衍射圖像的差別來鑒別各類纖維.
（2）紅外光譜法（Infre-red）—利用各種纖維的特征及化學基團，在紅外線光譜中,具有的特征及吸收譜帶來鑒別纖維.
（3）紫外光（Ultraviolet）,熒光（Fluorescence）—利用不同元素發射的熒光X射線的波長各有不同,再利用光譜分析.
（4）核磁共振法NMR（Nuclear magnetic resonance）—由自旋動量或角動量不為零的原子核，在恒定的外磁埸中，其核磁矩可取各種量子化的方位，在另一個給定頻率的電磁波作用下，原子核的磁能級之間所發生的共振躍遷現象，可以分析分子內原子團或原子排列的順序和化學鍵的性質。
（一）微觀光學儀及各項方法之發展現今各類光學儀器,林林總總,配合不同需要及不同工藝,例如:
（1）掃瞄電子顯微鏡SEM（SCANNING ELECTRON MICROSCOPE）—由光學系統及掃瞄系統,信號檢測系統和圖像顯示系統,記錄系統等組成.電子束從電子槍射出后，經磁透鏡聚焦，并受到兩組掃描線圈的偏轉作用，然后投射到試樣上作光柵狀掃描的細電子束，在顯像管的熒光屏得到圖像信息。其圖像立體感強，試樣厚度無限制。
（2）透射電子顯微鏡TEM（TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE）—由電子槍,聚光鏡等成像系統及圖像和記錄系統組成.
（3）掃瞄隧道顯微鏡STM（SCANNING TUNNELLING MICROSCOPE）
（4）原子力顯微鏡AFM（ATOMIC FORCE MICROSCOPE）
（5）偏振光顯微鏡（POLARIZED MICROSCOPE）—能使光線產生偏振,并在偏振之下觀察微細結構的顯微鏡.可測量纖維的雙折射和取向度。
（二）纖維結構鑒別法：
（1）X射線和電子衍射法（X-ray&Electron diffraction）—可利用X射線照射不同纖維時所得的衍射圖像的差別來鑒別各類纖維.
（2）紅外光譜法（Infre-red）—利用各種纖維的特征及化學基團，在紅外線光譜中,具有的特征及吸收譜帶來鑒別纖維.
（3）紫外光（Ultraviolet）,熒光（Fluorescence）—利用不同元素發射的熒光X射線的波長各有不同,再利用光譜分析.
（4）核磁共振法NMR（Nuclear magnetic resonance）—由自旋動量或角動量不為零的原子核，在恒定的外磁埸中，其核磁矩可取各種量子化的方位，在另一個給定頻率的電磁波作用下，原子核的磁能級之間所發生的共振躍遷現象，可以分析分子內原子團或原子排列的順序和化學鍵的性質。