絕緣電阻劣化系統高加速壽命老化試驗箱

絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經過長時間的測試(1~1000小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗，可進行BHAST試驗。

絕緣電阻劣化系統高加速壽命老化試驗箱

應用

PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等，GBA、DSP等，IC封裝、電容器、連接器等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測試評估。

絕緣電阻劣化系統高加速壽命老化試驗箱  特點：

高機能:采用驅動計測測試時焊接工序大幅減少

軟件設計簡單明了，直觀易操作

遠程監控功能，可監控試驗過程。

便利性高:構造裝著脫落式易進行保養交換。可同時試驗停止等聯動裝置功能，系統構成靈活。

測試自檢功能:點檢、校正方便。

設計精巧，不受場所限制，易移動。

可靠性高:配有CF卡，以防設備故障數據丟失。以UPS作為系統的支撐，保證試驗的安全繼續進行