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M-2000系列光譜橢偏儀旨在滿足薄膜量測的各種需求
橢偏儀theta-SE多點(diǎn)量測橢偏儀是一種用於表徵薄膜均勻性的光譜式橢偏儀
橢偏儀光譜橢偏儀Alpha-SE非破壞性薄膜厚度量測儀是J.A.Woollam橢偏儀產(chǎn)品中
VUV-VASEEllipsometer薄膜厚度量測儀以M-2000為主體
J.A.WoollamVASE是一款高精度多角度橢圓偏光儀，V-VASE系統(tǒng)非接觸式膜厚量測，垂直擺放樣品，移動精度高，量測角度從15-90度，可進(jìn)一步量測樣品...
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