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詳細介紹
MF系列光學測量顯微鏡采用透、反射的方式對工件長度和角度作精密測量。主要運用于錄象磁頭、大規模集成電路線寬以及其它精密零件的測試。廣泛地適用于計量室、生產作業線及科學研究等部門。主要優點：工作臺除作X、Y坐標的移動外，還可以作360度的旋轉，是一種理想的固定場所小型精密測量儀器。加裝影像測量裝置，一種將將顯微鏡看到的實物圖像通過數模轉換，使其成像在顯微鏡自帶的屏幕上或計算機上的顯微鏡設備。特別適用于制造業、精密零件以及不方便
三豐顯微鏡 觀察、測量和處理系統化的顯微鏡陣容
MF 系列
176 系列 — 測量顯微鏡
• 可觀察清晰無閃爍正像，且視場開闊。
• 測量精度在同類設備中(符合JIS B 7153標準)。
• 使用ML 系列，專門為MF 系列設計的高NA物鏡(長工作距離型)。
• 照明裝置(反射／透射) 可選用高亮度LED 燈泡或鹵素燈泡。
• 利用可變孔徑光闌(反射／透射) 可進行無衍射觀察測量。
• 各類尺寸的標準工作臺，達到400×200mm。
• 快速釋放裝置便于在測量工件大或測量工件數量多時快速移動工作臺。
• 粗調／細調進給手柄作為標準配置安裝在立柱兩側，便于精確聚焦與觀察測量，不受用左手或右手習慣的影響。
• 高倍目鏡觀察，達2000X。
• 標準測量顯微鏡，配有種類繁多的可選附件，包括Vision Unit 影像裝置與各種CCD數碼相機
三豐顯微鏡技術規格
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