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詳細介紹
結構特征
- 新型的TXS光譜儀可在HHG光束（高頻光束）、X射線自由電子激光器和臺式X射線激光器上進行準確的光子診斷。(HHG beamlines, X-ray freeelectron lasers, and table-top X-ray lasers)
- 對 X 射線光譜進行指紋識別以進行在線光束表征，透射光束保持不受干擾，透射率大于 90%，以便進一步用于實驗(In von Hamos geometry with high-efficiency backscattering)。
- 單次可測量2 keV 和 4 keV 之間的光子能量。
通過簡單地將反向散射探針與材料樣品交換，hardLIGHT TXS即可用于X射線發射光譜測量（XES）。
軟X射線范圍提供了對許多材料的化學狀態的高靈敏度通道，例如，在2kV下對硫的研究為電池研究提供了重要的參考。
X-ray absorption spectroscopy (XAS)at the sulfur K-edge(data courtesy of Dr. W. Malzer, TU Berlin)
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