公司動(dòng)態(tài)
科技前沿技術(shù),三維檢測(cè)提供更好的檢測(cè)能力
閱讀:58 發(fā)布時(shí)間:2023-2-25隨著科學(xué)技術(shù)和工業(yè)的發(fā)展,三維檢測(cè)技術(shù)在自動(dòng)化生產(chǎn)、質(zhì)量控制、機(jī)器人、反求工程以及生物醫(yī)學(xué)工程等方面的應(yīng)用日益重要。傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量技術(shù)存在測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)、需進(jìn)行測(cè)頭半徑的補(bǔ)償、不能測(cè)量彈性或脆性材料等局限性,因而不能滿(mǎn)足現(xiàn)代工業(yè)發(fā)展的需要。
而隨著現(xiàn)代高科技前沿技術(shù)的不斷升級(jí),精易迅始終處于行業(yè)技術(shù),不斷對(duì)產(chǎn)品要求更高,力求用更高標(biāo)準(zhǔn)打造匠心產(chǎn)品,以鮮明的產(chǎn)品賣(mài)點(diǎn)迎得各業(yè)日益變化的高需求。與此同時(shí),深圳精易迅新推出一款從研發(fā)到生產(chǎn)設(shè)計(jì)的Metric三維檢測(cè)儀產(chǎn)品,給用戶(hù)提供光學(xué)測(cè)量檢測(cè)技術(shù)和機(jī)械測(cè)量的結(jié)合;打造轉(zhuǎn)型升級(jí)。測(cè)量技術(shù)主要應(yīng)用在現(xiàn)代工業(yè)檢測(cè),借用計(jì)算機(jī)技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)快速,準(zhǔn)確的測(cè)量。方便記錄,存儲(chǔ),打印,查詢(xún)等等功能。
主要是集光、機(jī)、電和計(jì)算機(jī)技術(shù)于一體的智能化、可視化的,用于對(duì)物體空間外形和結(jié)構(gòu)進(jìn)行掃描,以得到物體的三維輪廓,獲得物體表面點(diǎn)的三維空間坐標(biāo)。Metric三維檢測(cè)儀作為現(xiàn)代大型精密、綜合測(cè)量?jī)x器,其顯著的優(yōu)點(diǎn)有:
應(yīng)用于監(jiān)測(cè)的優(yōu)勢(shì)
形變監(jiān)測(cè)特點(diǎn)是時(shí)效性、高精度和等精度,而Metric三維檢測(cè)儀技術(shù)符合此特性,無(wú)需事先埋設(shè)監(jiān)測(cè)點(diǎn)、無(wú)接觸、監(jiān)測(cè)速度快、高密度點(diǎn)能反映變形總體趨勢(shì)等。
無(wú)需埋設(shè)監(jiān)測(cè)點(diǎn)
三維檢測(cè)掃描能夠獲取大面積、高密度的海量點(diǎn)云,可采用變形體表面物體特征形體(如建筑物、地物或巖體結(jié)構(gòu)面)的特征信息替代設(shè)定點(diǎn)而實(shí)現(xiàn)監(jiān)測(cè)。
監(jiān)測(cè)速度快
激光的采樣點(diǎn)速率每s 可達(dá)到數(shù)千甚至數(shù)萬(wàn),是傳統(tǒng)測(cè)量方式的,可大大提高監(jiān)測(cè)區(qū)域內(nèi)的數(shù)據(jù)采集效率。
無(wú)接觸
三維檢測(cè)掃描無(wú)需接觸被測(cè)物體即通過(guò)主動(dòng)發(fā)射激光探測(cè)發(fā)射的激光回波信號(hào)直接獲取物體表面的三維坐標(biāo),可以解決高陡危巖、臨滑威脅大的變形體因人員難以企及、布點(diǎn)困難而無(wú)法獲取監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)的問(wèn)題,可消除作業(yè)人員的安全隱患。
整體監(jiān)測(cè)
監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)的高密度面式采集、多視監(jiān)測(cè)點(diǎn)云能確定出變形體完整的表面形態(tài),建立的整體三維模型疊加分析位移趨勢(shì),可有效避免傳統(tǒng)監(jiān)測(cè)方法變形成果表達(dá)中的局部性與片面性缺陷。
在工業(yè)行業(yè),三維檢測(cè)系統(tǒng)已成為光學(xué)三維測(cè)量領(lǐng)域的。精密的光電子器件,工業(yè)級(jí)堅(jiān)固測(cè)頭設(shè)計(jì)和功能強(qiáng)大的運(yùn)算軟件是其成功的基礎(chǔ)。Metric繼承歷代三維檢測(cè)系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn),并在設(shè)計(jì)、技術(shù)和性能上進(jìn)一步完善,打造出了一款繼承優(yōu)良CAD多功能緊湊型系統(tǒng)。Metric作為一款可靠多功能掃描儀,可完善解決復(fù)雜的測(cè)量和檢測(cè)難題,緊湊的體積充分滿(mǎn)足計(jì)量需求。