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詳細介紹
三次元工具顯微鏡
- 採用光學Z軸對焦符號非接觸式檢測待測物（SamPle）高度／深度，避免造成待測物（SamPle）刮傷或變形。
- 可加裝測量軟體，並運用量測統計分析（SPC）管制、WORD、EXCEL快速製作量測報告。
- 可單獨選購Z軸對焦符號，加裝到其它三次元工具顯微鏡，有效提高Z軸精度。
應用範圍：
- 錫球高度
- 金線弧高
- 銅箔高度
- 晶圓高度／深度
- 電子、機械各類產品高度／深度檢測
Z軸對焦符號
多種標準測定平臺可供選擇
| 勤友企業股份有限公司 |
| 參考價 | 面議 |
更新時間：2022-06-04 15:44:31瀏覽次數：291
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應用範圍：
Z軸對焦符號
多種標準測定平臺可供選擇
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