高低溫試驗箱產品具有模擬大氣環境中溫度變化規律。主要針對于電工，電子產品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環境下運輸，使用時的適應性試驗。用于產品設計，改進，鑒定及檢驗等環節。

高低溫測試箱是用來確定產品在高溫或低溫氣候環境條件下儲存、運輸、使用的適應性的方法。試驗的嚴苛程度取決于高溫或低溫的溫度和曝露持續時間。高低溫測試英文名稱High and low temperature test

高低溫試驗是高溫試驗和低溫試驗的的簡稱，試驗目的是評價高低溫條件對裝備在存儲和工作期間的性能影響。高低溫試驗的試驗條件、試驗實施、試驗步驟在GJB 150.3A一2009《裝備試驗室環境試驗方法高溫試驗》與GJB 150.4A—2009《裝備試驗室環境試驗方法低溫試驗》中都有詳細的規定。

高低溫測試箱設備參數

1。試驗設備

高溫試驗一般是將產品置于恒溫箱或恒溫室內進行試驗。介質的溫度用溫度計在不同位置測定，取其算術平均值。但要求箱內溫度盡可能均勻，通過熱空氣流動加熱產品，不應使試驗樣品靠近熱源。為減少輻射影響，試驗箱的壁溫不應高于環境溫度3%。

低溫試驗一般在低溫箱（室）內進行，其溫度一般靠人工制冷的方法獲得。在低溫箱的有效工作空間內，用強迫空氣循環來保持低溫條件的均勻性。

2。試驗參數

按地區和使用場合不同，GB2423·1一81和GB2423·2—81分別規定了不同溫度等級的優先數值。

低溫環境溫度：一65℃，一55"C，一45"C，一40℃，一30℃，一25℃，一15℃，一10℃，一5℃，0℃，+5℃；

高溫環境溫度：+200℃，+17S℃，+155℃，+125℃，+100℃，+8S℃，+70℃，+65℃，+60℃，+55℃，+50℃，+45℃，+40℃，+3S℃，+30℃。

溫度的允許偏差范圍均為±2℃。

在試驗樣品溫度達到穩定后，高、低溫條件試驗的持續時間根據需要從下列數據中選?。?、16、72、95（h）