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詳細介紹
功能特點：
可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業試樣的檢驗，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學等研究的理想儀器
技術參數：
▲ 采用無限遠光學系統及模塊化功能設計。
▲ 長工作距離明/暗視場平場物鏡，視場大而清晰。
▲ 廣角平場目鏡：視場直徑Ф22mm。
▲ 粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。
▲ 內置式可切換偏光觀察裝置，起偏器可360°旋轉。
▲ 上光源采用翻蓋式12V50W鹵素燈箱，更換燈炮安全便捷，下光源采用12V30W鹵素燈，加裝散熱片。
▲ 三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時可通光，適合暗視場顯微圖像拍攝。
基本配置：
可選附件：
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