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MarSurf CM select 是強大的可配置型共聚焦顯微鏡，用于表面的三維測量和分析 – 非接觸，與材料無關，而且速度快.
典型測量任務
粗糙度測量符合
ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
表面特征輪廓測量（包括體積、磨損、摩擦學）
輪廓和形狀 (2D, 3D)
孔，顆粒分析
缺陷檢測
根據應用調整的測量解決方案
作為一個多傳感器系統，MarSurf CM select 將多種傳感器技術結合到了一個測量設備中。也可以根據測量任務選擇最佳的點傳感器。MarSurf CM select 可以滿足您對樣品尺寸、自動化、測量舒適度和準確性的個性化要求 - 甚至全自動的測量解決方案。
最高數據質量
我們最重要的標準之一，即優異的精度、準確性、可再現性和文檔記錄，保證可追溯性和可審核性。我們為客戶提供的最高服務就是提供能夠可靠地用于工程、產品、工藝設計和質量控制領域的定量測量值。
| MarSurf CM select | |
|---|---|
| 分辨率 | 可達 2 (nm) 垂直 |
| 測量速度 | 最高 100fps |
| 工件最大重量 (kg) | 15 kg |
| 測量原理 | 共聚焦 高性能 LED（505 nm / 白） |
| 語言 | 德語 , 英語 , 法語 , 意大利語 , 西班牙語 , 葡萄牙語 , 波蘭語 , 俄語 , 土耳其語 , 中文 , 日語 , 韓語 |
| 其他 | xyz 方向碰撞檢測 |
| 電源 | 100 - 240 V |
| 表面參數 | ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178, …
我們產品的各種應用 機械工程 鑒定和量化粗糙度、幾何形狀和磨損量 電子和半導體 亞微米級的組件檢測，確保產品無缺陷 醫療技術 生產和實驗室中醫療表面的質量保證 材料科學 新表面和產品的功能屬性的優化 微系統技術 以納米級精度測量最小組件的復雜表面幾何形狀 |
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