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詳細介紹
能量色散X射線熒光分析儀
FISCHERSCOPE X-RAY XUL和XULM系列正是每個電鍍車間的基礎設備。簡單易用的能量色散X射線熒光分析儀非常適合監(jiān)控鍍液成分，但在質(zhì)量控制方面也是的幫手：堅固耐用，非常適合測量批量生產(chǎn)的零件（如螺母和螺栓）上的電鍍層 。
XUL/XULM系列的所有X射線光譜儀操作簡單直觀。較大的樣品可以簡單地手動放在測量室中；或者，對于較小的物品（例如插頭），儀器可以配備手動樣品臺。盡管測量設備緊湊，但它們?yōu)槟脑嚇犹峁┝俗銐虻目臻g-高度可達17厘米。
如果您有多種不同的測量任務，X射線XULM可互切換的過濾器和準直儀，因此您可以為應用創(chuàng)造測量條件。 此外，XULM具有內(nèi)置的微聚焦管，即使在測量點微小和鍍層很薄的情況下也能提供精確的結(jié)果。
特點：
根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度；
XULM的最小測量點約0.1 mm；XUL最小測量點約0.5 mm；
鎢X射線管或鎢微聚焦管（XULM）作為X射線源；
采用經(jīng)實踐驗證的短測量時間的比例接收器；
準直器：固定或4個自動切換；
初級過濾器：固定或3個自動切換；
固定樣品臺或手動XY載物臺；
用于光學觀察測量點的攝像頭；
經(jīng)認證的全面防護設計；
應用：
電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產(chǎn)的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護；
電鍍液中金屬含量的分析；
裝飾性涂層 Cr/Ni/Cu/ABS；
電子行業(yè)連接器和觸點上的鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XAN
和XUL系列一樣，F(xiàn)ISCHERSCOPE®X射線XAN®儀器適合分析簡單形狀的樣品。然而，XAN系列的一大優(yōu)勢在于其半導體探測器。X射線熒光不僅可以測量鍍層的厚度，還可以分析合金（例如銅）的成分。
XAN系列總共包括5款臺式XRF光譜儀，涵蓋廣泛的應用范圍。XAN215具有經(jīng)濟高效的PIN檢測器。非常適合簡單的鍍層厚度任務，例如鐵上的鋅層或Au/Ni/Cu。對于更復雜的合金或貴金屬應用，我們建議使用帶有硅漂移檢測器SDD的設備（例如XAN220）：由于其分辨率更高，可以可靠地區(qū)分金和鉑。
特點：
根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀；
半導體檢測器（PIN和SDD） 確保出色的檢測精度和高分辨率；
XAN 250和252：用于測量鋁，硅或硫之類的輕元素；
準直器：固定或4種可切換，最小測量點約為0.3mm
基本濾片：固定或6種可切換
固定樣品支架或手動XY載物臺
攝像頭可輕松定位測量位置
樣品高度最多17厘米;
應用：
牙科合金的無損分析，銀測試；
多層鍍層測試；
電子和半導體行業(yè)中厚度為10nm以上的功能涂層的分析；
消費者保護中的痕量分析，例如測試玩具中的鉛含量；
根據(jù)珠寶業(yè)和煉油廠精度要求測量金屬合金含量。
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