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詳細摘要： 主要技術指標：X軸直線度: 0.2μm/50mm高速直線運動

詳細摘要： 主要技術指標： 范圍／分辨率 800μm / 0.000125μm (8μm 測量范圍)

詳細摘要： 主要技術指標：測量范圍：360 μm(-200 μm - +160 μm)

詳細摘要： 主要技術指標：探針行程達350μm

詳細摘要： 主要技術指標：檢測器范圍: 360μm (-200μm - +160μm)

詳細摘要： 主要技術指標：范圍/分辨率± 25 μm/0.8 nm

詳細摘要： 主要技術指標：大測量范圍為 350 μm（0.014 in)（-200 μm 至 +150 μm）（-0.008 in 至 +0.006 in）

詳細摘要： 主要技術指標：測頭切換至4個位置 - 軸向（合攏）、90°、180° 或 270°

詳細摘要： 主要技術指標：操作簡單(猶如智能手機)

詳細摘要： 主要技術指標：測頭：電感式無導塊測頭，2 μm 測尖， 測量力約 0.7mN .(標準)

詳細摘要： 主要技術指標：測量范圍可達350微米（0.014英寸）

詳細摘要： 主要技術指標：測量范圍達350 μm (0.014 in)

詳細摘要： 主要技術指標：測量范圍：100um（根據傳感器范圍，150um也可提供）

詳細摘要： 主要技術指標：測量范圍：100 um (根據傳感器范圍,150um 也可提供)

詳細摘要： 主要技術指標：10 mm的測量范圍，4 nm分辨率，

詳細摘要： 主要技術指標：平面、斜面、外圓柱面，曲面，小孔，溝槽及車軸等