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詳細摘要： 思看科技在機械領域有著非常豐富的經驗，并為不同機械件的尺寸和各樣的檢測需求定制產品和解決方案，只為幫助機械制造企業更高效地實現生產制造需求。TrackScan跟...

詳細摘要： KSCAN復合式三維掃描儀，不僅Z小分辨率從0.05mm提升到0.01mm，使得數據的精細度有了很大的提升，而且單機體積精度從0.06mm/m提升到0.035m...

詳細摘要： 德國Fischer X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量，菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優化的X射線熒光測量...

詳細摘要： 小巧、方便且穩固 – MP0R 系列儀器能夠簡便、快速且無損地測量涂層厚度。配有兩個顯示屏、一個特別堅固的外殼和耐磨損的探頭，它們是可以直接用于現場可靠測量的理...

詳細摘要： FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能，緊湊型且通用的X射線測量儀器，非常適合無損涂層厚度測量和材料分析

詳細摘要： Fischer FD10 604-143探頭配Fischer DELTASCOPE FMP20、FMP40涂層測厚儀,采用磁感應和渦流法的雙模設計，可以進行雙功...

詳細摘要： FGAB1.3是一款磁感應探頭，是DeltaScope FMP10和DeltaScope FMP30磁性測厚儀的標準探頭，*！FGAB1.3 ： 604-141...

詳細摘要： 當您不容許出錯時，專家系列可為您提供具有豐富細節的圖像。Fluke TiX1000 紅外熱像儀單幅像素高達2048 x 1536,一幅熱圖包含314萬個真實測量...

詳細摘要： Fluke TiX660 紅外熱像儀高清紅外熱像儀，大尺寸可旋轉屏幕（5.6英寸），圖像質量更高（640x480），實測紅外像素高達122萬，配有精密位移成像技...

詳細摘要： 專家級熱像儀（TiX1000、TiX660 和 TiX640）提供可選的添加高幀頻模式（在購買熱像儀時提供）。利用這些紅外序列，用戶每秒可記錄和分析大量數據幀，...

詳細摘要： 雙功能探頭V7FKB4與FISCHER FMP-30手持式儀器或臺式FISCHERSCOPE?MMS?PC2（模塊PERMASCOPE?）配合使用，專門用于精確...

詳細摘要： FISHERSCOPE ST200是菲希爾*臺自動化表征硬質涂層的劃痕測試儀。可以簡便地測試厚度≥1um涂層的粘合力和結合強度。儀器十分適用于研發、質量控制、來...

詳細摘要： DUALSCOPE MPOR USB 涂層測厚儀為快速且簡便測量而設計。這一款經濟型的MP0RUSB涂層測厚儀儀器可以準確地和方便地在2個液晶顯示器上顯示鍍層厚...

詳細摘要： ISOSCOPE? MP10E配備有一個特別的和便于讀取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測...

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詳細摘要： 價格便宜的DELTASCOPE MP10E儀器適合于使用在不需要全部測量數據存儲，評估和輸出， 但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件上測量的情況下。配

詳細摘要： 該款儀器已經廣泛應用于汽車、航空、電鍍和機械加工等等領域.如配置ED10兩用探頭，在同時測量 Zn/Fe、Cu/Fe和鋁氧極氧化，以及 Fe、Cu、Al、Zn-...

詳細摘要： XDV-μ 型系列儀器是專為在很微小結構上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10...

詳細摘要： XDV-SDD型儀器是FISCHER產品中性能強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器（SDD）。50mm?的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚...

詳細摘要： XDLM測量系統經常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度