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TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統
閱讀：81 發布時間：2023-4-16 TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統
TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統，采用智能光學跟蹤測量技術，配備高品質光學設備，無需貼點即可完成超高精度動態三維測量，可應用于質量控制、產品開發、逆向工程等多個方面。
基于不同的掃描場景需求，TrackScan-P42可自由切換多種工作模式。34束交叉藍色激光超快掃描，高效靈活；7束平行藍色激光精細掃描，細節；單束藍色激光掃描，迅速獲取深孔及死角位置三維數據。
TrackScan-P42可搭配便攜式CMM測量光筆T-Probe，可精準獲取工件縫隙、孔位、凹槽等復雜處的高精密點云數據。還可以提供開發接口，與機器人協同工作，實現智能在線批量自動化三維檢測。
無需貼點
基于反光標記點跟蹤技術，TrackScan掃描無需貼點，大大提高了工作效率
支持接觸式測量
T-Probe靈活性，測量范圍廣，單點重復性0.030mm，用于接觸測量基準孔、隱藏點、特征等關鍵部位
00001.
雙色激光
紅光掃描模式高效靈活，藍光掃描模式0.020mm超高分辨率，輕松獲取物體細節
復合定位
支持光學跟蹤和標記點跟蹤兩種模式，根據現場情況靈活切換