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詳細介紹
Hommel-Etamic surfscan 是通用的粗糙度和輪廓測量系統，便于您進行質量控制。使用該光機探測系統，您可以在一次運行中測量工件的粗糙度和輪廓。所有特性均清晰地顯示在報告中。
在整個測量范圍中以 6 納米的高分辨率測量，因此能可靠地測量精細表面的粗糙度，還可以測量關鍵輪廓特性。
得益于可以快速地更換的智能探臂，可以毫無問題地執行其他測量任務。內置的 RFID 芯片確保探臂自動分配給測量程序。
測量系統采用模塊化設計，使您可以根據自己的確切需求來定制測量站。如有必要，可以使用其他探測系統擴展 測量系統 - 例如為了增加輪廓測量范圍，或為了進行特定的粗糙度測量。
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