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一、簡述：
BeamMaster是高精度的多刀口掃描光束質量分析系統，可采樣、測量和顯示激光的截面形狀、2D和3D能量分布、質心位置、橢圓度和主次軸角度、相對功率、以及通過設定參數和偏差范圍實現在線篩選等功能，采樣和刷新率較高5Hz，亦可平均1-20個采樣數據得到噪聲平均值和較大的測量精度。
二、特點：
測量連續激光光束形狀，功率和位置測量
可測聚焦光束，光束直徑：3 μm ～9 mm
分辨率0.1 μm，動態范圍寬
實時顯示、分析和數據存儲系統
響應的波長范圍：190 nm ～1800 nm
功率測量：較小10uW
主要參數 | |
型號 | BeamMaster |
波長測量范圍 | 190-1100(Si) 800-1800(InGaAs) |
尺寸 | 9mm (BM-7 Si) 5mm (BM-3 Si) 3mm((BM-3 and BM-7 InGaAs) |
較小可測光斑尺寸 | 15um(BM-7) 3um(BM-3) |
光斑尺寸測量分辨率 | 1um (光斑尺寸>100um) 0.1um(光斑尺寸<100um) |
光斑位置測量分辨率 | 1um |
光斑位置測量精度 | +/-15um |
光斑寬度測量精度 | +/-2% |
訂購號 | 1224014 BeamMaster BM-7 Si-Enhanced - USB interface 1224012 BeamMaster BM-3 Si-Enhanced - USB interface 1224018 BeamMaster Bm-7 InGaAs (3 mm) - USB interface 1224020 BeamMaster BM-7 InGaAs (5 mm) - USB interface 1224016 BeamMaster BM-3 InGaAs (3 mm) - USB interface 1038024 BeamMaster Rotation Mount 33-7147-000 BeamMaster C-Mount Adapter Plate |
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