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詳細摘要： 除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，SuperViewW系列3D白光干涉顯微鏡具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應變...

詳細摘要： SuperViewW1國產白光干涉儀設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能；除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，具有的測量晶圓翹曲度功...

詳細摘要： Chotest白光干涉儀輪廓儀采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和優異的3D重建算法組成測量系統，保證測量精度高。除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，具有的...

詳細摘要： 中圖儀器VT6000系列共聚焦3D成像顯微鏡以共聚焦技術為原理，在相同物鏡放大的條件下，共焦顯微鏡所展示的圖像形態細節更清晰更微細，橫向分辨率更高。所展現的放大...

詳細摘要： VT6000共聚焦顯微鏡測量粗糙度的儀器采用3D捕獲的成像技術，它通過數碼相機針孔的高強度激光來實現數字成像，具有很強的縱向深度的分辨能力。

詳細摘要： 中圖儀器VT6000大傾角超清納米共聚焦測量顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系...

詳細摘要： 以共聚焦技術為原理的VT6000共聚焦工件表面微觀形貌檢測顯微鏡是用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。儀器基于共聚焦顯微技術，結合精密Z向掃...

詳細摘要： VT6000國產轉盤共聚焦顯微鏡配備了真彩相機并提供還原的3D真彩圖像，對細節的展現纖毫畢現；主要測量表面物理形貌，進行微納米尺度的三維形貌分析。

詳細摘要： 中圖儀器VT6000系列3D形貌共聚焦測量顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統...

詳細摘要： 中圖儀器VT6000系列三維形貌共聚焦材料測量顯微鏡可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件、MEM...

詳細摘要： VT6000轉盤共聚焦顯微鏡結構簡單：儀器整體由一臺輕量化的設備主機和電腦構成，控制單元集成在設備主機之內，亦可采用筆記本電腦驅動，實現了“拎著走“的便攜式設計...

詳細摘要： 中圖儀器SuperViewW1三維白光干涉形貌儀是以白光干涉技術原理，對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精...

詳細摘要： SuperViewW1白光干涉測量顯微鏡以白光干涉技術為原理，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現...

詳細摘要： 中圖儀器VT6000系列3D共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器...

詳細摘要： 白光干涉顯微鏡也叫白光干涉儀，是以白光干涉技術原理，對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點部位...

詳細摘要： SuperViewW1中圖國產白光干涉儀以白光干涉技術為原理，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現...

詳細摘要： VT6000光學共聚焦顯微鏡可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及...

詳細摘要： SuperViewW1中圖白光干涉儀三維表面測量系統以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通...

詳細摘要： SuperViewW1白光干涉儀光學三維輪廓測量儀以白光干涉技術為原理，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，是一款用于對各種精密器件及材料表面進行...

詳細摘要： SuperViewW1白光干涉儀精密測量表面三維形貌的重建算法自動濾除樣品表面噪點，在硬件系統的配合下，分辨率可達0.1nm。其雙通道氣浮隔振系統設計，既可以接...