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技術(shù)文章

用于可靠性試驗的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

閱讀:1079          發(fā)布時間:2008-4-11

用于可靠性試驗的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

 對產(chǎn)品進(jìn)行可靠性試驗,根據(jù)試驗的目的選用什么試驗方法,選用什么試驗條件,如何確定失效判據(jù),如何選擇抽樣方式,zui后對產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評價的結(jié)果符合什么可靠性等級,這在現(xiàn)有國內(nèi)、上制定的各種可靠性技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)上幾乎都有明確規(guī)定。這說明對于電子元器件質(zhì)量和可靠性水平,在上已有統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)。對于電子元器件產(chǎn)品適用于民用、工業(yè)用、軍用和宇航用都有相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)或相應(yīng)的等級要求。這為我們開展可靠性試驗提供了方便條件。
用于電子元器件可靠性試驗的主要技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)如表8.5所列。在表8.5所列的各種標(biāo)準(zhǔn)中,過去美軍MIL標(biāo)準(zhǔn)一直在世界上占主要地位。由于現(xiàn)在在上存在著電子元器件可靠性認(rèn)證問題,所以IEC標(biāo)準(zhǔn)正逐漸成為主流。我國這方面的標(biāo)準(zhǔn)大多數(shù)是參考MIL標(biāo)準(zhǔn)和IEC標(biāo)準(zhǔn)制定的。世界各國的電子元器件生產(chǎn)廠也都按照這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法進(jìn)行。
表8.5 主要的可靠性試驗方法標(biāo)準(zhǔn)
IEC標(biāo)準(zhǔn)[International Electrotechnical Commission電工委員會]
68號出版物:基本環(huán)境試驗法
147-5號出版物:半導(dǎo)體器件的機(jī)械及耐氣候性試驗方法
MIL標(biāo)準(zhǔn)[Military Standard(美國軍用標(biāo)準(zhǔn))]
MIL-STD-202:電子、電器元器件試驗方法
MIL-STD-750:分立半導(dǎo)體器件試驗方法
MIL-STD-833:微電子器件試驗方法
BS標(biāo)準(zhǔn)[British Standard(英國標(biāo)準(zhǔn))]
BS-9300:半導(dǎo)體器件的試驗方法
BS-9400:IC的試驗方法
JIS標(biāo)準(zhǔn)[Japanese Industral Sandard(日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn))]
JIS C 7021:分立半導(dǎo)體器件的環(huán)境試驗方法和疲勞試驗方法
JIS C 7022:半導(dǎo)體集成電路的環(huán)境試驗方法和疲勞試驗方法
EIAJ標(biāo)準(zhǔn)[Standard Elcctronic Industries Association of Japan(日本電子機(jī)械工業(yè)協(xié)會標(biāo)準(zhǔn))]
SD-121:分立半導(dǎo)體器件的環(huán)境和疲勞性試驗方法
IC-121:集成電路的環(huán)境及疲勞性試驗方法

其它:NASA標(biāo)準(zhǔn),CECC標(biāo)準(zhǔn),防衛(wèi)廳標(biāo)準(zhǔn),汽車工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

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