偏壓老化測試系統高加速老化試驗箱
Bias-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統適用于IC封裝，半導體，微電子芯 片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速 壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和 薄弱環節。測試其制品的密封性和老化性能。
偏壓老化測試系統高加速老化試驗箱
Bias-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統是將被測元件放置于一定的環境溫 度中,（環境溫度依據被測元件規格設定）給被測元件施加一定的偏置電 壓。同時控制系統實時檢測每個材料的漏電流，電壓，并根據預先設定， 當被測材料實時漏電流超出設定時，自動切斷被測材料的電壓，可以保護 被測元件不被進一步燒毀。
偏壓老化測試系統高加速老化試驗箱
Bias-HAST 適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的密封性和老化性能。
特點：
·每顆器件的Vgs獨立控制
·實時監測每個試驗器件的 Id、Ig
· 控制上、下電時序
· 全過程試驗數據保存于硬盤 中，可輸出Excel
·試驗報表和繪制全過程漏電流 IR變化曲線
·漏電流超限保護，自動切斷測 量回路
標準：
AEC-Q100、 MIL-STD 750D、 GJB128、 JEDEC
